直流源表、脈沖源表、窄脈沖源、大電流脈沖源表、高電流源、高電壓源
3子卡/10子卡插卡式源表PXle插卡式電橋
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
以SiC(碳化硅)、GaN(氮化鎵)為代表的功率半導(dǎo)體器件被測參數(shù)可分為兩大類:靜態(tài)特性測試和動態(tài)特性測試。靜態(tài)特性測試主要是表征器件本征特性指標(biāo),如擊穿電壓、漏電、跨導(dǎo)、導(dǎo)通內(nèi)阻等;動態(tài)參數(shù)是指器件開關(guān)過程中的相關(guān)參數(shù),如開關(guān)特性參數(shù)、體二極管反向恢復(fù)特性參數(shù)及柵極電荷特性參數(shù)等,主要采用雙脈沖測試進(jìn)行。
武漢普賽斯儀表有限公司提供二極管/三極管/場效應(yīng)管/大功率激光器等多種半導(dǎo)體分立器件電性能測試解決方案,可進(jìn)行工藝設(shè)計(jì)/材料評估/產(chǎn)品建模性能驗(yàn)證、可靠性分析、生產(chǎn)過程管控、晶圓驗(yàn)收測試/模具分類、封裝測試、失效分析,為半導(dǎo)體分立器件的研發(fā)、生產(chǎn)和驗(yàn)證提供一站式解決方案。
武漢普賽斯儀表有限公司提供半導(dǎo)體材料的電特性表征解決方案,可測試半導(dǎo)體材料電性能參數(shù),如電流I,電壓V,或者電阻Ω的變化情況,為半導(dǎo)體材料的研究及分析提供可靠的數(shù)據(jù)支持。
武漢普賽斯儀表有限公司提供“五合一”傳感器性能驗(yàn)證測試解決方案,一臺儀器即可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表,還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。
武漢普賽斯儀表有限公司教育和教學(xué)實(shí)驗(yàn)室集成工作臺解決方案,可覆蓋集成電路測試與驗(yàn)證、集成電路原理與應(yīng)用、半導(dǎo)體器件物理、半導(dǎo)體集成電路、模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)、電路基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)等專業(yè)課程,助力高校打造芯片及功率器件測試實(shí)踐實(shí)訓(xùn)中心。
4通道 最小脈寬100μs
脈沖|直流PIV特性曲線掃描
測量范圍高至300V低至10pA
300V/30A/4A/10pA
雙通道可獨(dú)立|可組合工作
輸出電流大 脈沖邊沿陡
最大脈沖輸出電流100A
測量電流低至1nA
一臺儀器可實(shí)現(xiàn)40通道的同時(shí)測量
30μV-1200V/1pA-100A CV&IV測量
高電壓 大電流 高精度 模塊化
基于普賽斯電子領(lǐng)先的光學(xué)與光電技術(shù)、微弱信號處理與抗干擾技術(shù)、高速數(shù)字信號處理、核心算法與系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢。
率先自主研發(fā)高精度臺式數(shù)字源表(SMU) ,實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)化替代及產(chǎn)業(yè)化。
幫助用戶構(gòu)建自定義的高效率、高精度、高安全性解決方案,致力于為客戶提供最優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和最貼心的服務(wù)。
PCIM Asia Shanghai 2025 — 上海國際電力元件、可再生能源管理展覽會是PCIM Expo & Conference 在亞洲地區(qū)...
2024-12
12月7日,第十五屆亞洲電源技術(shù)發(fā)展論壇在深圳盛大召開,此次論壇匯聚了來自電源領(lǐng)域的國內(nèi)外優(yōu)秀技術(shù)專家和產(chǎn)業(yè)鏈上下游企業(yè),共...
近日,湖北省發(fā)展和改革委員會印發(fā)了《關(guān)于公布2024年湖北省工程研究中心認(rèn)定名單的通知》(鄂發(fā)改高技〔2024〕357號),武漢普賽...
2024-11
引言全球能源結(jié)構(gòu)的變革深刻影響著電力電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,以IGBT為代表的功率半導(dǎo)體器件是電力電子設(shè)備能源轉(zhuǎn)換與傳輸?shù)年P(guān)鍵,在新...
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